Electron and ion beams are widely used for both qualitative and quantitative analysis of semiconductor materials and devices. They can be used to image structures with sub-nm resolution and to provide information about elemental composition and dopant concentration. This course describes the fundamentals of electron and ion beam characterization and includes a project that analyzes the surface roughness of a solar cell.
Electron and Ion Beam Characterization
Electron and Ion Beam Characterization
Dieser Kurs ist Teil von Spezialisierung Semiconductor Characterization
Dozent: Trevor Thornton
Verschaffen Sie sich einen Einblick in ein Thema und lernen Sie die Grundlagen.
Stufe Mittel
Empfohlene Erfahrung
Es dauert 4 Stunden
3 Wochen bei 1 Stunde pro Woche
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Was Sie lernen werden
Explain the interaction of electron and ion beams with semiconductor materials.
Describe the constituent components of electron and ion beam characterization systems.
Describe applications of electron and ion beam characterization.
Kompetenzen, die Sie erwerben
- Kategorie: Semiconductor Device
- Kategorie: Complementary Metal Oxide Semiconductor (CMOS)
- Kategorie: Semiconductors
- Kategorie: Semiconductor Characterization Techniques
- Kategorie: Semiconductor Materials
- Kategorie: Semiconductor Device Physics
Wichtige Details
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5 Aufgaben
Unterrichtet in Englisch
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In diesem Kurs gibt es 5 Module
Electron and ion beams are widely used for both qualitative and quantitative analysis of semiconductor materials and devices. They can be used to image structures with sub-nm resolution and to provide information about elemental composition and dopant concentration. This course describes the fundamentals of electron and ion beam characterization and includes a project that analyzes the surface roughness of a solar cell.
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1 Video2 Lektüren
This week introduces the concepts of scanning electron microscopy and how it is used for both qualitative and quantitative sample analysis.
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2 Videos1 Lektüre1 Aufgabe
This week, you will learn about Auger electron emission spectroscopy, a powerful technique for surface analysis.
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3 Videos1 Lektüre1 Aufgabe
This week, you will learn about secondary ion mass spectroscopy and how it is used to measure the concentration and distribution of constituent materials in semiconductors.
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2 Videos1 Lektüre1 Aufgabe
This week, you will complete a case study to assess your ability to use images obtained from an SEM for quantitative surface analysis.
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Dozent
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