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Arizona State University

Optical and X-Ray Characterization

Trevor Thornton

Instructeur : Trevor Thornton

Inclus avec Coursera Plus

Obtenez un aperçu d'un sujet et apprenez les principes fondamentaux.
4.8

(13 avis)

niveau Intermédiaire

Expérience recommandée

4 heures pour terminer
3 semaines à 1 heure par semaine
Planning flexible
Apprenez à votre propre rythme
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Ce que vous apprendrez

  • Describe the use of light to measure the thickness and refractive index of thin transparent films.

  • Explain how light is absorbed and emitted by semiconductors.

  • Explain the advantages and limitations of optical and X-ray characterization.

Compétences que vous acquerrez

  • Catégorie : Semiconductor Device
  • Catégorie : Complementary Metal Oxide Semiconductor (CMOS)
  • Catégorie : Semiconductors
  • Catégorie : Semiconductor Characterization Techniques
  • Catégorie : Semiconductor Materials
  • Catégorie : Semiconductor Device Physics

Détails à connaître

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Évaluations

5 devoirs

Enseigné en Anglais

Découvrez comment les employés des entreprises prestigieuses maîtrisent des compétences recherchées

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Élaborez votre expertise du sujet

Ce cours fait partie de la Spécialisation Semiconductor Characterization
Lorsque vous vous inscrivez à ce cours, vous êtes également inscrit(e) à cette Spécialisation.
  • Apprenez de nouveaux concepts auprès d'experts du secteur
  • Acquérez une compréhension de base d'un sujet ou d'un outil
  • Développez des compétences professionnelles avec des projets pratiques
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Il y a 6 modules dans ce cours

Optical and X-ray techniques are powerful ways to characterize semiconductor thin films. They can be used to measure film thickness, purity and crystalline quality, and for compositional analysis. Modern techniques are fast, turn-key, and generally non-destructive, allowing for rapid assessment of material properties. This course describes the fundamentals of optical and X-ray characterization and provides real-world examples of how they are used in semiconductor manufacturing.

Inclus

1 vidéo2 lectures

This week introduces the concept of reflectance spectroscopy: a rapid, convenient, and non-destructive technique for measuring the thickness of transparent materials.

Inclus

2 vidéos1 lecture1 devoir

This week, you will learn about ellipsometry, a powerful technique that allows us to extract the thickness and refractive index of transparent layers as thin as a few nanometers.

Inclus

1 vidéo1 lecture1 devoir

This week, you will learn about photoluminescence.

Inclus

1 vidéo1 lecture1 devoir

This week, you will learn about electron microprobe X-ray analysis.

Inclus

2 vidéos1 devoir

This week, you will complete a case study to assess your ability to analyze electron microprobe x-ray images to determine the constituent elements in a 40 nm MOSFET.

Inclus

1 vidéo1 lecture1 devoir

Instructeur

Évaluations de l’enseignant
4.8 (6 évaluations)
Trevor Thornton
Arizona State University
5 Cours2 492 apprenants

Offert par

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Felipe M.
Étudiant(e) depuis 2018
’Pouvoir suivre des cours à mon rythme à été une expérience extraordinaire. Je peux apprendre chaque fois que mon emploi du temps me le permet et en fonction de mon humeur.’
Jennifer J.
Étudiant(e) depuis 2020
’J'ai directement appliqué les concepts et les compétences que j'ai appris de mes cours à un nouveau projet passionnant au travail.’
Larry W.
Étudiant(e) depuis 2021
’Lorsque j'ai besoin de cours sur des sujets que mon université ne propose pas, Coursera est l'un des meilleurs endroits où se rendre.’
Chaitanya A.
’Apprendre, ce n'est pas seulement s'améliorer dans son travail : c'est bien plus que cela. Coursera me permet d'apprendre sans limites.’

Avis des étudiants

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KN
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Révisé le 8 mai 2024

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