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Arizona State University

Optical and X-Ray Characterization

Verschaffen Sie sich einen Einblick in ein Thema und lernen Sie die Grundlagen.
4.8

(13 Bewertungen)

Stufe Mittel

Empfohlene Erfahrung

Es dauert 4 Stunden
3 Wochen bei 1 Stunde pro Woche
Flexibler Zeitplan
In Ihrem eigenen Lerntempo lernen
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Was Sie lernen werden

  • Describe the use of light to measure the thickness and refractive index of thin transparent films.

  • Explain how light is absorbed and emitted by semiconductors.

  • Explain the advantages and limitations of optical and X-ray characterization.

Kompetenzen, die Sie erwerben

  • Kategorie: Semiconductor Device
  • Kategorie: Complementary Metal Oxide Semiconductor (CMOS)
  • Kategorie: Semiconductors
  • Kategorie: Semiconductor Characterization Techniques
  • Kategorie: Semiconductor Materials
  • Kategorie: Semiconductor Device Physics

Wichtige Details

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5 Aufgaben

Unterrichtet in Englisch

Erfahren Sie, wie Mitarbeiter führender Unternehmen gefragte Kompetenzen erwerben.

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Erweitern Sie Ihre Fachkenntnisse

Dieser Kurs ist Teil der Spezialisierung Spezialisierung Semiconductor Characterization
Wenn Sie sich für diesen Kurs anmelden, werden Sie auch für diese Spezialisierung angemeldet.
  • Lernen Sie neue Konzepte von Branchenexperten
  • Gewinnen Sie ein Grundverständnis bestimmter Themen oder Tools
  • Erwerben Sie berufsrelevante Kompetenzen durch praktische Projekte
  • Erwerben Sie ein Berufszertifikat zur Vorlage
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In diesem Kurs gibt es 6 Module

Optical and X-ray techniques are powerful ways to characterize semiconductor thin films. They can be used to measure film thickness, purity and crystalline quality, and for compositional analysis. Modern techniques are fast, turn-key, and generally non-destructive, allowing for rapid assessment of material properties. This course describes the fundamentals of optical and X-ray characterization and provides real-world examples of how they are used in semiconductor manufacturing.

Das ist alles enthalten

1 Video2 Lektüren

This week introduces the concept of reflectance spectroscopy: a rapid, convenient, and non-destructive technique for measuring the thickness of transparent materials.

Das ist alles enthalten

2 Videos1 Lektüre1 Aufgabe

This week, you will learn about ellipsometry, a powerful technique that allows us to extract the thickness and refractive index of transparent layers as thin as a few nanometers.

Das ist alles enthalten

1 Video1 Lektüre1 Aufgabe

This week, you will learn about photoluminescence.

Das ist alles enthalten

1 Video1 Lektüre1 Aufgabe

This week, you will learn about electron microprobe X-ray analysis.

Das ist alles enthalten

2 Videos1 Aufgabe

This week, you will complete a case study to assess your ability to analyze electron microprobe x-ray images to determine the constituent elements in a 40 nm MOSFET.

Das ist alles enthalten

1 Video1 Lektüre1 Aufgabe

Dozent

Lehrkraftbewertungen
4.8 (6 Bewertungen)
Trevor Thornton
Arizona State University
5 Kurse2.368 Lernende

von

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Chaitanya A.
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Bewertungen von Lernenden

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KN
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Geprüft am 8. Mai 2024

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